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晶片应力测试系统
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晶片应力测试系统
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型号:
产地: 国内
品牌:北京三平泰克科技有限责任公司
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产品介绍

TDS测试原理:

材料内应力的存在会使材料产生各向异性应变,由于光弹效应,该各向异性应变会产生光学各向异性。当入射偏振激光穿过样品材料时,表现出各向异性的两个光学主轴对光的传播速度会有不同,即在出射点形成一定的相位差,从而其透射强度会有不同。透射偏振差分技术是通过对透射光的偏振状态进行测试,得到样品表面相互垂直的两个方向上的光强透射比率差,结合光弹效应原理计算出材料的内应力,可以实现对样品的应力各向异性分布的实时、无损、高精度、快速检测。

产品图

2英寸InP晶片内应力分布

产品特点:

●采用光学原理进行测量,对样品无损伤

●扫描范围大,样品最大可达6英寸,且量程可调

●采用自动扫描数据采集,操作简单,提高效率

●强大的数据处理系统,可快速成像

●测量为无损伤测量,设备维护成本低

技术参数:



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