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产品介绍
1.技术类别：半导体激光器、老化试验装置
2.发明专利：半导体激光器老化试验装置，北京聚睿众邦科技有限公司201821778991.6
3.技术简介：
半导体激光器的最有效的寿命考核方法是进行电老化试验，就是在一定电流下观察器件在老化期间输出。半导体激光器的老化过程在一定程度上决定了产品的耐用性、可靠性，而老化所用到的老化器件就对产品起到关键性作用。目前传统的老化测试是将激光器固定于恒定温度的老化插座上或者将激光器整体置于能够控制环境温度的烘箱中，这种方法无法检测并考虑激光器工作过程中的自热现象，而且控温精度不高，导致老化试验不够稳定。本技术为装配式半导体激光器老化试验装置，摒弃了传统的烘箱提供的温度环境，利用薄膜加热片、薄膜热电偶和温控仪实现对每个被测半导体激光器断电和通电时的温度进行原位在线监测和精确控制，该装置可分立式和自由组合式使用，实现对不同数量DUT器件的同时老化试验。因此，系统具有体积小、功耗低、升温快、精确实时控温、成本低、操作简单、效率高、易于进行批量化生产和试验等优点。
图1： 半导体激光器老化测试系统架构图
图2：左边为薄膜即热片，右图为集成了即热片的激光器老化插座
4.应用领域：
适用于半导体激光器、探测器、THz激光器、晶体管等具有TO封装器件的可靠性老化试验
5.合作方式：
本平台可以转让专利技术，也可以合作开发推广本激光器老化试验系统，有意向可以拔打电话：18518552906详情资料可联系获取。